반도체전류전압1 반도체 8대 공정 7. 검사 EDS 공정 안녕하세요, 오늘은 반도체 8대 공정 중 7번째 공정 과정인 검사 공정 EDS에 대해서 설명드릴게요! EDS 란 Electrical Die Sorting의 약자로, 웨이퍼 레벨에서 반도체 칩의 불량 여부를 확인하는 공정입니다. 특히, 반도체 칩의 전기적 특성을 테스트하고 분류하는 주된 과정인데요, 이 단계는 최종 검사 단계 중 하나로, 반도체 칩이 제대로 작동하는지의 여부 (위에서 언급한 칩의 불량 여부)를 확인하는 중요한 단계 중 하나입니다. Electrical Die Sorting 과정은 다음의 단계를 거치게 됩니다. 1. 다이 테스트 준비 다이(반도체 칩)는 테스트를 위해 준비합니다. 이 단계에서는 테스트를 위한 환경을 설정하고, 테스트할 다이를 배치하거나 처리합니다. 2. 전기적 특성 테스트 다이.. 2023. 12. 5. 이전 1 다음